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    果树冠层由树体上方的枝条、叶片及叶幕组成。主要包括果树各种器官的形状、方位、大小及 其空间分布情况。果树冠层的形态特征包括枝条的长度、倾角、直径以及叶片的长度、叶倾角、叶片面积等。果树冠层是叶片作为光合作用的主要场所其形态特征直接影响着果树的光合作用。进而影响果树产量和经济效益，由于植物遗传特性、地理环境、气象等各种因素的影响不同 树种甚至同种果树的冠层形态特征也会呈现较大的差异。因此在实际生产中会通过果树冠层形态特征的不同来比较不同品种或同一品种果树在，不同环境条件下产量、品质等方面的差异，果树冠层形态特征测量技术与方法果树冠层结构是动态变化的。要准确、完整描述其结构存在一定的困难因此多数情况下会做简化处理。早期应用中对冠层结构的测定经简化后往往只有几个较为容易测定的指标。如冠层高度、行距、栽植密度等。近年来随着电子、光学等测量技术的快速发展，各种测定技术和方法被提出和应用，以便获得较多传统方法难以测量的指标。如叶面积指数、叶面积密度、叶片平均倾斜角及各种角度下叶面积的分布等。

    手工测量法即人工借助直尺、量角器、游标卡尺等常规测量工具测量和统计冠层枝叶的形态特征。这是早期研究者进行果树冠层结构与生理生态研究经常采用的方法，因该方法简单易行，现在还有不少人使用在实际应用中为了便于测量，研究者在测量前往往先用木棍、竹竿或绳子等辅助物将果树冠层分成多个立方体小格，然后再对各个小格中的枝叶形态指标进行测量。手工测 量虽然简单易行但存在很大的缺点:一是工作量大、效率低。因果树树冠大、结构复杂完整测量往往需要耗费较大的人力。因此手工测量法较适合于树体较小、结构简单的树冠。二是测量误差 大不同的人、不同时间测量的结果可能存在较大的差异，因此往往需要通过多次重复求取平均值的方法来降低误差这无疑也加大了工作量。

    冠层分析仪是基于图像测量方法而研发的一种用于分析冠层形态特征的产品。从图像中提取或估算冠层的形态指标参数同时通过，测量植物冠层中光线的拦截快速实时测量有效光合辐射值。具有方便、快捷等优点大大减少了研究人员获取数据的时间，使冠层的结构分析过程较加有效、有效，成为当前定量化测量果树冠层形态特征的有效手段。但冠层分析仪也具有一定的局限性，无法测量整个冠层结构特征的指标，有些指标数据还是需要人工测量，近十多年来冠层分析仪已被广泛用于植物冠层结构和生理生态的研究中。Hiphen冠层分析仪对苹果树的叶面积指数、冠层开度、平均叶倾角等冠层参数进行测算，冠层分析仪可以同时快速准确地测定干周粗、树高、冠幅、枝下高、冠高和郁闭度等果树形态指标。通过测量不同树龄平均叶倾角的特征，并结合当地太阳高度角的变化特征，通过使用一定的果树修剪技术措施来控制树冠张开的角度。使太阳光较大限度达到冠层内部提高光合生产力。